VNA 全频段 S 参数
对微波连接器做 DC-40GHz 全频段 S 参数逐件测量，输出 S2P 文件，按 SOLT/TRL 校准，供配对与验收。
查看详情 →
VNA 全频段 S 参数
面向低损耗微波连接器的高精度 S 参数测量，强化校准与去嵌入，控制插损不确定度。
查看详情 →
VNA 全频段 S 参数
面向多端口微波连接组件的全 S 参数矩阵测量，覆盖串扰与隔离度评估。
查看详情 →
TDR 阻抗
面向量产连接器的批量阻抗一致性测试，按容差分组输出。
查看详情 →
TDR 阻抗
针对微带线与同轴结构的阻抗台阶定位，区分本体缺陷与装配应力。
查看详情 →
TDR 阻抗
用 TDR 发阶跃测局部阻抗，时域定位不连续，分辨率可达毫米级。
查看详情 →
回波损耗与插损
按 VNA 扫频读 S11/S21，取整段最差回波与最大插损，附不确定度。
查看详情 →
回波损耗与插损
测量微波连接器在温度循环下的插损变化，评估温漂与稳定性。
查看详情 →
回波损耗与插损
针对低损耗组件做插损不确定度评估，控制计量溯源等级。
查看详情 →
多通道幅相一致性
对阵列前端模块做相位标定，给出通道相对相位基准。
查看详情 →
多通道幅相一致性
多通道幅相一致性测量，输出幅度≤0.3dB、相位≤3° 的组内相对值。
查看详情 →
多通道幅相一致性
按幅相容差对相控阵通道分组筛选，输出可装机配对建议。
查看详情 →
插拔寿命与扭矩重复性
评估插拔耐久后连接器的射频性能衰退，给出可装机结论。
查看详情 →
插拔寿命与扭矩重复性
按固定循环插拔记录接触电阻与回波变化，扭矩用校准扳手控重复误差。
查看详情 →
插拔寿命与扭矩重复性
验证螺纹微波连接器的装配扭矩与重复性，确保量产装配稳定。
查看详情 →
环境可靠性试验
盐雾试验后清洁恢复并复测射频，给出前后退化量与结论。
查看详情 →
环境可靠性试验
测量连接器屏蔽效能与接触电阻，环境前后对比评估可靠性。
查看详情 →
环境可靠性试验
温循与振动综合施加，试验后复测射频，评估综合可靠性。
查看详情 →
